Примеры типовых контрольных заданий для текущего контроля
Тест
1. Что такое нано?
А. Одна миллионная
Б. Одна миллиардная
В. Одна десятая
2. Наночастицы принадлежат одному из измерений:
А. От одного до ста нанометров
Б От одного до двух нанометров
В От одного до миллиарда нанометров
3. Светодиоды в отличии от обычних ламп накаливания хороши тем, что они
А. Дают много «тепла»
Б. Дешевые
В. Экономичные
4. Квантовая точка – это…
А. Объект на евклидовой плоскости
Б. Точка кипения
В. Нанокристалл полупроводника
Темы рефератов
1. Роль поверхности в создании устройств нано- и микросистемной техники
2. Сканирующая зондовая микроскопия СТМ и АСМ
3. Обработка СЗМ изображений
4. Функциональные возможности оборудования РНЦ ЮЗГУ.
5. Микро- и наноразмерные атомные кластеры и их свойства
6. Создание интегральных устройств методами литографии
7. Создание интегральных устройств методами литографии
8. Квантовые точки
9. Лазеры на самоорганизованных квантовых точках
10. Многослойные наноструктуры
11. Перспективы кремния как материала микросистемной техники
12. Микроэлектромеханические устройства
13. Акселерометры.
14. Актюаторы
15. Наносенсоры
16. МЭМС микрофон
17. САПР для разработки МЭМС Layouteditor
18. Микроволны. Терапия
19. Системы связи
20. Композитные материалы
21. Нанофотоника
22. Мультферроики
Типовые задания для промежуточной аттестации
Промежуточная аттестация по дисциплине проводится в форме зачета. Зачет проводится в форме тестирования (бланкового и/или компьютерного).
|
|
|
Для тестирования используются контрольно-измерительные материалы (КИМ) – задания в тестовой форме, составляющие банк тестовых заданий (БТЗ) по дисциплине, утвержденный в установленном в университете порядке.
Проверяемыми на промежуточной аттестации элементами содержания являются темы дисциплины, указанные в разделе 4 настоящей программы. Все темы дисциплины отражены в КИМ в равных долях (%). БТЗ включает в себя не менее 100 заданий и постоянно пополняется.
Для проверки знаний используются вопросы и задания в различных формах:
-закрытой (с выбором одного или нескольких правильных ответов),
- открытой (необходимо вписать правильный ответ),
- на установление правильной последовательности,
- на установление соответствия.
Умения, навыки и компетенции проверяются с помощью задач. Все задачи являются многоходовыми. Некоторые задачи, проверяющие уровень сформированности компетенций, являются многовариантными. Часть умений, навыков и компетенций прямо не отражена в формулировках задач, но они могут быть проявлены обучающимися при их решении.
В каждый вариант КИМ включаются задания по каждому проверяемому элементу содержания во всех перечисленных выше формах и разного уровня сложности. Такой формат КИМ позволяет объективно определить качество освоения обучающимися основных элементов содержания дисциплины и уровень сформированности компетенций.
|
|
|
Методические материалы, определяющие процедуры оценивания знаний, умений, навыков и (или) опыта деятельности, характеризующих этапы формирования компетенций
Процедуры оценивания знаний, умений, навыков и (или) опыта деятельности, характеризующих этапы формирования компетенций, регулируются следующими нормативными актами университета:
- Положение П 02.016–2015 «О балльно-рейтинговой системе оценки качества освоения образовательных программ»;
- методические указаний, используемых в образовательном процессе, указанные в списке литературы.
Для текущего контроля по дисциплине в рамках действующей в университете балльно-рейтинговой системы применяется следующий порядок начисления баллов:
Тaблицa 7.4 – Порядок начисления баллов в рамках БРС
| Форма контроля | Минимальный балл | Максимальный балл | ||
| балл | примечание | балл | примечание | |
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 |
| Практическое занятие № 1 (Роль поверхности в создании устройств нано- и микросистемной техники) | 2 | Выполнил, но «не защитил» | 4 | Выполнил и «защитил» |
| Практическое занятие № 2 (Сканирующая зондовая микроскопия СТМ и АСМ) | 2 | Выполнил, но «не защитил» | 4 | Выполнил и «защитил» |
| Практическое занятие № 3 (Микро- и наноразмерные атомные кластеры и их свойства) | 2 | Выполнил, но «не защитил» | 4 | Выполнил и «защитил» |
| Практическое занятие № 4 (Создание интегральных устройств методами литографии) | 1 | Выполнил, но «не защитил» | 2 | Выполнил и «защитил» |
| Практическое занятие № 5 (Квантовые точки) | 1 | Выполнил, но «не защитил» | 2 | Выполнил и «защитил» |
| Практическое занятие № 6 (Многослойные наноструктуры) | 1 | Выполнил, но «не защитил» | 2 | Выполнил и «защитил» |
| Практическое занятие № 7 (Перспективы кремния как материала микросистемной техники) | 1 | Выполнил, но «не защитил» | 2 | Выполнил и «защитил» |
| Практическое занятие № 8 (Микроволны. Терапия) | 1 | Выполнил, но «не защитил» | 2 | Выполнил и «защитил» |
| Практическое занятие № 9 (Системы связи) | 1 | Выполнил, но «не защитил» | 2 | Выполнил и «защитил» |
| СРС | 12 | 24 | ||
| Итого | 24 | 48 | ||
| Посещаемость | 0 | 16 | ||
| Зачет | 0 | 36 | ||
| Итого | 24 | 100 | ||
Для промежуточной аттестации, проводимой в форме тестирования, используется следующая методика оценивания знаний, умений, навыков и (или) опыта деятельности. В каждом варианте КИМ - 16 заданий (15 вопросов и одна задача).
|
|
|
|
|
|
Каждый верный ответ оценивается следующим образом:
- задание в закрытой форме –2балла,
- задание в открытой форме – 2 балла,
- задание на установление правильной последовательности – 2 балла,
- задание на установление соответствия – 2 балла,
- решение задачи – 6 баллов.
Максимальное количество баллов за тестирование - 36 баллов.
Дата добавления: 2018-05-02; просмотров: 242; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!