ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ

⇐ ПредыдущаяСтр 14 из 22Следующая ⇒

Для построения контрольных карт по альтернативному признаку также как и в предыдущей лабораторной работе используются результаты измерений выборки резисторов объемом не менее 30 шт., полученные в лабораторной работе №1. Предполагается, что порядок записи результатов в таблице измерений представляет собой имитацию строгой временной последовательности изъятия резисторов и проведения измерений их сопротивлений в ходе технологического процесса. Процесс обработки результатов измерений проводится в том же порядке, что и в лабораторной работе №3.

1. Имеющаяся «временная последовательность» измерений сопротивлений резисторов (табл.1.5, лаб.раб. №1) разбивается на N групп. В данной лабораторной работе N = 10. Результаты группирования заносятся в таблицу по форме табл. 4.1, в которую далее заносятся и результаты расчетов.

Таблица 4.1

Результаты группирования измерений и расчетов параметров контрольных карт по альтернативному признаку для технологического процесса производства резисторов

№ группы	R₁	R₂	…	R_m	Объем группы	Количество дефектов в группе	Доля дефектов в группе	Количество дефектов на единицу продукции
1
2
…
j
…
N

2. Для определения количества дефектных изделий (измерений, соответствующих дефектным изделиям) в группе используется прием, имитирующий образование дефектов.

2.1. Вычисляется величина среднего квадратического отклонения для всей выборки измерений (изделий) по формуле ,

где - измеренное значение сопротивления резистора;

- количество измерений (изделий) в выборке;

-математическое ожидание.

2.2. Определяется доверительный интервал для математического ожидания по формуле

где - коэффициент Стьюдента, определяемый по табл.П.1.1 для данного распределения при доверительной вероятности 0,9.

2.3. Вычисляются границы для .

Нижняя граница = + , верхняя граница = -

2.4. В каждой группе определяется количество измерений (изделий), вышедших за пределы нижней или верхней границы. Именно они и принимаются за дефекты и заносятся в табл.4.1.

2.5. Если оказалось, что дефектов слишком мало (менее 10% от объема выборки n) или велико (более 20% от объема выборки n), то берется соответственно меньший или больший уровень доверительной вероятности Р и определяются границы, так чтобы выполнилось указанное условие.

3. По формулам п. 4.1 последовательно рассчитываются и строятся p , np и u-карты.

3. Проводится анализ контрольных карт и делаются соответствующие выводы.

СОДЕРЖАНИЕ ОТЧЕТА

Отчет должен содержать таблицы результатов измерений и расчетов и необходимые графики. Все они должны иметь названия и ссылки с пояснениями в тексте. Отчет имеет следующую структуру:

Цель работы.

1. Теоретическая часть.

2. Практическая часть.

2.1. Результаты измерений (должна быть приведена таблица результатов измерений).

2.2. Обработка результатов измерений.

2.2.1. Расчет и построение - контрольной карты средних значений.

2.2.1. Расчет и построение - контрольной карты размахов.

2.2.1. Расчет и построение - контрольной карты средних квадратических отклонений.

Выводы

КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

1. В чем заключается отличие карт контроля по количественному признаку от карт контроля по альтернативному признаку?

2. Перечислить карты контроля по альтернативному признаку и для чего они применяются.

3. Привести порядок расчета и построения p-карты.

4.Привести порядок расчета и построения np-карты.

5.Привести порядок расчета и построения u-карты.

6. Какой технологический процесс является статистически контролируемым (находится под статистическим контролем)?

7. Что понимается под стабильностью в статистическом смысле?

8. В чем заключается основная цель применения контрольных карт?

ЛИТЕРАТУРА

1. Вентцель Е.С. Теория вероятностей. М.: Наука, 1969.

2. Смирнов Н.В., Дудин-Барковский И.В. Курс теории вероятностей и математической статистики для технических приложений. М.: Наука, 1965.

3. Обзор «Просто о сложном. Введение в статистический контроль качества производственного процесса». Серия: Все о качестве. Зарубежный опыт. Вып.11. М.: 1999г.

Метрология программного обеспечения (ПО) – дисциплина, изучающая проблемы оценивания метрических характеристик качества ПО на этапах от разработки спецификаций до завершения отладки и тестирования программного продукта. В курсе рассматриваются критерии, характеристики и метрики качества ПО; особый упор делается на характеристики корректности, надежности и сложности программ. Изучаются формальные модели и методы оценивания как статических, так и динамических характеристик качества ПО, позволяющие на различных стадиях разработки выявлять просчеты и дефекты программного изделия. Рассматриваются инструментальные средства поддержки и автоматизации измерения характеристик ПО.

Лабораторная работа №5

Дата добавления: 2020-04-08; просмотров: 190; Мы поможем в написании вашей работы!

Поделиться с друзьями:

⇐ Предыдущая 9 10 11 12 131415 16 17 18 Следующая ⇒

Мы поможем в написании ваших работ!