УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
1. Вентцель Е.С. Теория вероятностей. М.: Наука, 1969.
2. Смирнов Н.В., Дудин-Барковский И.В. Курс теории вероятностей и математической статистики для технических приложений. М.: Наука, 1965.
3. Обзор «Просто о сложном. Введение в статистический контроль качества производственного процесса». Серия: Все о качестве. Зарубежный опыт. Вып.11. М.: 1999г.
Лабораторная работа № 4
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ПРОЦЕССА С ПОМОЩЬЮ КАРТ КОНТРОЛЯ ПО АЛЬТЕРНАТИВНОМУ ПРИЗНАКУ
ЦЕЛЬ РАБОТЫ – ознакомление с контрольными картами по альтернативному признаку, изучение способов их построения и использования для своевременного обнаружения неслучайных изменений технологического процесса.
ОСНОВНЫЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ СВЕДЕНИЯ
Основные сведения о контрольных картах и способах построения независимо от их особенностей были приведены в предыдущей лабораторной работе, здесь мы рассмотрим способы расчета и построения карт контроля по альтернативному признаку.
Использование альтернативных признаков означает, что после проверки изделие считается либо годным, либо дефектным, и решение о качестве контролируемой группы принимают в зависимости от числа обнаруженных дефектных изделий или от числа дефектов, приходящихся на определенное число единиц продукции.
Существует несколько типов таких карт.
p -карта – контрольная карта доли дефектных единиц продукции;
|
|
np -карта – контрольная карта количества дефектных единиц продукции;
u-карта (иногда обозначается как с-карта) – контрольная карта количества дефектов на единицу продукции;
Построение p -карты.
1. Для каждой группы изделий (измерений) вычисляется доля дефектных изделий (измерений, соответствующих дефектным изделиям) по формуле
,
где - доля дефектных изделий в i-ой группе;
- количество дефектных изделий в i-ой группе;
- количество изделий в i-ой группе.
2. Вычисляется средняя доля дефектных изделий в группах (уровень ЦЛ)
ЦЛ = ,
где - количество групп изделий (измерений).
3. Вычисляются значения ВГР и НГР:
ВГР = HГР =
4. Строится p -карта, представляющая собой зависимость значений доли дефектных единиц изделий от номера группы и проводится ее анализ с целью выявления необходимости (или отсутствия необходимости) корректировки техпроцесса.
p -карты могут строиться, как для постоянных объемов (m) выборок, так и для переменных.
Построение np -карты.
Эта карта является альтернативой p -карте, но она может использоваться только для случая постоянного объема выборок.
1. Для каждой группы изделий (измерений) определяется количество дефектных изделий (измерений, соответствующих дефектным изделиям) .
|
|
2. Вычисляется среднее количество дефектных изделий в группах (уровень ЦЛ)
ЦЛ =
3. Вычисляются значения ВГР и НГР:
ВГР = ; HГР = ,
где величина определяется так же, как для p -карты.
4. Строится np -карта, представляющая собой зависимость количества дефектных изделий в группе ( ) от номера группы, и проводится ее анализ с целью выявления необходимости (или отсутствия необходимости) корректировки техпроцесса.
Некоторое преимущество np -карт вместо p -карт заключается в удобстве оперирования с простым числом дефектных изделий вместо долей дефектных единиц продукции.
Построение u -карты.
u -карта характеризует количество дефектов в выборке, приходящихся на единицу продукции. Обычно u -карта используется в случаях непостоянного объема выборок. Это может иметь место, когда, например, контроль продукции жестко привязывается ко времени, а количество произведенной продукции оказывается различным. Такая ситуация бывает в большинстве случаев.
1. Для каждой группы изделий (измерений) определяется количество дефектных изделий (измерений, соответствующих дефектным изделиям), приходящихся на единицу продукции
|
|
,
где - случайная переменная, распределенная по закону Пуассона;
- число дефектов в i-ой группе;
- объем i-ой группы.
2. Вычисляется среднее количество дефектных изделий на единицу продукции (уровень ЦЛ)
,
где N – количество групп.
3. Вычисляются значения ВГР и НГР:
НГРi = ; ВГРi = .
Видно, что u -карта значений ,будет иметь переменные границы регулирования.
4. Строится u -карта, представляющая собой зависимость количества дефектных изделий, приходящихся на единицу продукции, от номера группы, и проводится ее анализ с целью выявления необходимости (или отсутствия необходимости) корректировки техпроцесса.
ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ
ОБОРУДОВАНИЕ:
1.Универсальный цифровой измеритель-мультиметр типа М 832, М 838.
2. Набор не менее 30шт дискретных элементов – резисторов, конденсаторов, транзисторов и т.п., (тип элементов определяется преподавателем).
ХОД РАБОТЫ
1. Получить у преподавателя измерительный прибор - мультиметр и исследуемые элементы, проверить их количество.
2. Установить переключатель пределов измерения прибора в нужное положение и провести измерения контролируемых параметров элементов, записывая результаты измерений в таблицу по форме табл. 1.5 (лабораторная работа №1).
|
|
3. Окончив измерения, сдать мультиметр и исследуемые элементы преподавателю.
4. В соответствии с заданием преподавателя в качестве исходных данных могут использоваться результаты измерений сопротивлений выборки резисторов, полученные в лабораторной работе №1. В этом случае новые измерения не проводятся.
Дата добавления: 2020-04-08; просмотров: 204; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!