Методики исследования свойств материалов
Физико-механические испытания
Измерение плотности материала осуществлялось гидростатическим взвешиванием на аналитических весах АДВ-200М по ГОСТу 20163-76. Каждый образец сначала взвешивался на воздухе, а затем в дистиллированной воде с помощью проволоки, на которую подвешивался образец. Плотность образцов (ρ)рассчитывалась по формуле:
(2.9)
где ρB - плотность воды (0,998 Мг/м3); mC - вес образца на воздухе, г (без проволоки); mB - вес образца в воде, г; mПР - вес проволоки, г.
Результаты измерений плотности представлены в таблице 2.
Таблица 2 – Плотность полиарилата и его композитов
| Образец | mC | mB | mПР | Плотность |
| ПАр+Al | 0,9649 | 1,0151 | 0,5515 | 0,950547 |
| ПАр+Cu | 2,0844 | 2,1347 | 1,6309 | 4,137356 |
Рентгеноструктурный анализ
Методы регистрации рентгеновской дифракционной картины
Для структурного анализа регистрация рентгеновских лучей может производиться фотографическим или ионизационным методами. Аппараты, в которых используется ионизационный способ, получили название дифрактометров.
Наиболее точные измерения дифракционной картины проводятся на аппаратах с ионизационной регистрацией - дифрактометрах. На рис.3 показана блок-схема дифрактометра типа ДРОН. Рентгеновские лучи из окна рентгеновской трубки через две ограничительные диафрагмы направляются на исследуемый образец-шлиф, расположенный на оси гониометрического устройства.
|
|
|
Рисунок 3 - Блок-схема дифрактометра ДРОН-3
Конусы отраженных образцом лучей регистрируются счетчиком квантов, который может перемещаться по окружности гониометра вокруг исследуемого образца. Для того чтобы получить отражения от разных плоскостей кристаллов образец поворачивают относительно первичного пучка, одновременно перемещают и счетчик квантов. Когда какая-либо плоскость попадает в отражающее положение, счетчик квантов регистрирует отраженный луч. Угловая скорость перемещения счетчика вдвое больше скорости поворота образца, поэтому дифрагированные лучи всегда попадают в счетчик. Peгистрация рентгеновской картины с помощью дифрактометра происходит неодновременно и требует последовательного изменения угла отражения Θ.
Создаваемые в счетчике квантов сигналы поступают для обработки в электронно-вычислительное устройство. Устройство вывода информации дает сведения об интенсивности отраженных лучей в зависимости от положения исследуемого образца относительно первичного пучка, то есть угла отражения Θ. Эта информация регистрируется на ленте самопишущего потенциометра, на цифропечатающую машинку или на перфоленту.
|
|
|
Рентгеноструктурный анализ
Рентгеноструктурный анализ основан на явлении дифракции рентгеновских лучей на регулярной кристаллической структуре, т.е. каждое кристаллическое вещество в зависимости от симметрии кристалла, расположения атомов в решетке и расстоянии между атомами даст строго индивидуальную дифракционную картину.
Рентгеноструктурным анализом изучают металлы, сплавы, минералы, неорганические и органические соединения, полимеры, аморфные материалы, жидкости и газы, молекулы белков, нуклеиновых кислот и т.д. Наиболее успешно рентгеноструктурный анализ применяют для установления атомной структуры кристаллических тел. Это обусловлено тем, что кристаллы обладают строгой периодичностью строения и представляют собой созданную самой природой дифракционную решётку для рентгеновских лучей.
Дата добавления: 2018-04-05; просмотров: 271; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!