Содержание лабораторных занятий
Казахско-Американский Университет SYLLABUS Основы электронной и измерительной техники. (название дисциплины) 3 кредита часов: лекционных 30 лабораторных15 Время по расписанию аудитория 504,512 РЭиТ 2курс ФПН (факультет, группа) officehours: время по расписанию 3 семестр 2015/2016 (учебный год) Ассоциированный профессор , к.ф.-м.н, доцент Насохова Ш.Б. (должность, ученая степень, Ф.И.О. преподавателя)
Лекционный курс
Содержание лекционных занятий
Модуль I
Лекция 1-2Физические явления при контакте твердых тел.Физика полупроводников. Полупроводниковые материалы. Электронно-дырочный переход. Вольт-амперная характеристика. – 1час
Лекция 3-4Полупроводниковые диоды.Общие сведения. Выпрямительные и высокочастотные диоды. Стабилитроны. Импульсные диоды. Диод Шоттки –1 час
Лекция 5-6.Свойства структуры с двумя р-п- переходами. Принцип действия (усиления) и схемы включения транзистора. Классификация транзисторов и краткие сведения о технологии их изготовления. Статические характеристики, h-параметры– 1 час
Лекция 7-8.Работа транзистора на высоких частотах и в импульсном режиме.Полевые транзисторы. Типы полевых транзисторов, их особенности. Полевые транзисторы с управляющим р-п-переходом. Статические характеристики и параметры.–1 час
|
|
|
Лекция 9-10. Оптоэлектронные полупроводниковые приборы. Оптические излучения в полупроводниковых структурах. Полупроводниковые лазеры. Фотоприемники. Параметры и характеристики фотоприемников. Фотодиод. Оптопары. – 1 час
Лекция 11-12.Микроэлектроника, интегральныесхемы(ИС).
КлассификацияИС: полупроводниковые, пленочные, гибридные, совмещенные. Технологическиеосновымикроэлектроники. Изоляцияэлементов. Транзисторы интегральных схем. Полупроводниковые резисторы, конденсаторы. – 1 час
Лекция 13-14.Логические и линейные интегральные схемы. Транзисторная логика. Схемы с инжекционным питанием. Параметры и характеристики логических элементов. Полупроводниковые интегральные схемы памяти.– 1час
Модуль II
Лекция 15-16.Показатели и характеристики аналоговых электронных устройств
Определение аналоговых электронных устройств. Принципы построения, особенности функционирования и область применения. Принцип электронного усиления. Классификация электронных усилительных устройств. Основные технические характеристики усилительных устройств: амплитудная, амплитудно-частотная (АЧХ), фазочастотная (ФЧХ) и переходная характеристики.– 1час
|
|
|
Лекция 17-18.Схемы усилительного каскада с общим эмиттером (ОЭ). Выбор рабочей точки на нагрузочной линии. Основные параметры схемы ОЭ: коэффициенты усиления тока и напряжения, входное и выходное сопротивления. АЧХ и ФЧХ каскада с ОЭ. Особенности каскадов с общим коллектором (ОК) и с общей базаой(ОБ). Высокочастотная (ВЧ) и низкочастотная (НЧ) коррекции. – 1 час
Лекция 19-20.Принцип, назначение и виды обратной связи (ОС) Влияние ОС на основные показатели и характеристики усилительных устройств. Виды усилителей мощности: однотактные и двухтактные усилители мощности. Трансформаторное и бестрансформаторное подключение нагрузки. Ключевые усилители мощности класса С и Д. – 1час
Лекция 21-22. Дифференциальный каскад и операционные усилители.Классификация операционных усилителей (ОУ). Основные параметры и характеристики. Типовые структуры и каскады ОУ. Применение ОС для создания устройств аналоговой обработки сигналов. Устойчивость усилителей на ОУ – 1час
|
|
|
.Лекция 23-24.Устройства аналоговой обработки сигналов. Инвертирующий и неинвертирующий усилители на ОУ. Сумматоры, дифференциаторы, интеграторы, логарифматоры. Активные RC – фильтры. Классификация активныхфилтров. АФ низких, высоких частот. – 1час
Лекция 25-26.Метрология. Законодательные акты. Измерения и измерительные технологии. Законодательная метрология и стандартизация,их взаимосвязь Назначение и виды стандартов. Государственный метрологический надзор. Схемы передачи информации о размерах единиц всем средствам измерений. 2 часа
Лекция 27-28.Автоматизация измерений. Назначение и роль автоматизированных систем при комплексном анализе и описании эксплуатационных измерений. Измерительные системы для поверки, верификации и сертификации системного эксплуатационного и поверочного оборудования. –1час
Лекция 29-30Стандартизация и сертификация. Законодательство о стандартизации. Международное сотрудничество в области стандартизации. Нормативные документы по стандартизации и виды стандартов. Государственная служба сертификации. Схемы сертификации. Порядок проведения сертификации. –1час
|
|
|
Содержание лабораторных занятий
Модуль I
Лаб.1 Исследование статических характеристик полупроводниковых диодов.
Лаб.2 Исследование характеристик диода и стабилитрона
Лаб.3 Выпрямители
Лаб. 4 Исследование усилителей синусоидальных сигналов
Лаб5 Исследование статических характеристик биполярного транзистора.
Лаб. 6 Исследование статических характеристик полевого транзистора.
Лаб. 7 Исследование характеристик режекторного фильтра
Модуль II
Лаб.8Исследование резисторного каскада усиления.
Лаб. 9-10 Исследование инвертирующего и не инвертирующего усилителей на ОУ.
Лаб .11-12 Исследование компаратора на ОУ.
Лаб.13 Мостовые методы измерения в системах телекоммуникаций.
Лаб .14 Осциллографические способы радиотехнических измерений.
Лаб.15 Ознакомление со средой программирования LabView.
Создание виртуального прибора с индикацией.
График СРС
| недели | Номер Занятий по syllabus
| CРC | В том числе СРСП | ||||
| Тема и вид задания (с указанием литературы) | Срок выдачи и приема задания (нед) | Тема и вид задания (с указанием литературы) | Срок выдачи и приема задания (нед) | ||||
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 |
| Модуль I | |||||||
| 1 | Л-1-2. | Тиристор. Вольт – амперная характеристика тиристора. (1), с.17-25 (в виде Реферата) | 1 | 2 | Полупроводники. p – nпереход Доклад с презентацией (1) (10 – 12) слайдов | 1 | 2 |
| 2 | Л-3-4. | Оптоэлектронные полупроводниковые приборы. Светодиоды (5),Реферат с.24-35 | 2 | 3 | Расчет параметров биполярного транзистора. (1), с.35-41 Реферат (10-12стр) | 2 | 3 |
| 3 | Л-5-6. | Многоэмиттерный транзистор, транзистор с барьером Шоттки. (1), с.42-44 Реферат (10-12стр) | 3 | 4 | Амплитудные и фазовые детекторы на ОУ. презентация в Powerpoint (10 -12 слайдов) | 2 | 3 |
| 4 | Л-7-8. | Параметры и характеристики логических элементов. Полупроводниковые интегральные схемы памяти.[6,с.48] Реферат (10-12стр) | 4 | 5 | Виды измерительных сигналов. Измерение параметров сигналов преобразователями. Реферат (8 – 10) стр | 3 | 4 |
| 5 | Л-9-10. | Основные технические характеристики усилительных устройств: АЧХ, ФЧХ и переходная характеристики. Реферат (10-12стр) | 5 | 6 | Дифференциальный усилительный каскад доклад | 4 | 5 |
| 6 | Л-11-12. | Трансформаторное и бестрансформаторное подключение нагрузки. Ключевые усилители мощности класса С и О. (4), с. 139-150 Реферат (10-12стр) | 6 | 7 | Измерение параметров электрических сигналов осциллографическими методами. (6), с135-144 презентация в Powerpoint | 5 | 6 |
| 7 | Л-13-14 | Расчет элементов дифференциальных каскадов. (5), с.174-181 Реферат (10-12) | 7 | 8 | Измерение нелинейных искажений в радиоустройствах.(4), с149-17презентация в Powerpoint | 6 | 7 |
| Модуль II | |||||||
| 8 | Л-15-16. | Расчет устройств на операционных усилителях. Активные фильтры низкой частоты Баттерворта, Чебышева. Реферат | 8 | Измерение параметров радиопередающего устройства. Реферат (7 – 8 стр) | 7 | 8 | |
| 9 | Л-17-18. | Компараторы и генераторы электрических колебаний (3), с 258-276 Реферат (10-12стр) | 9 | 10 | Измерение радиочастотных трактов. Доклад( 10 стр) | 8 | 9 |
| 10 | Л-19-20. | Метрологические характеристики СИ и их нормирование. Законодательная метрология и стандартизация, их взаимосвязь. Реферат 12 стр | 10 | 11 | Назначение, основные метрологические параметры. Погрешность средств измерений. (2), с232-241 презентация в Powerpoint | 9 | 10 |
| 11 | Л-21-22. | Погрешности измерений, погрешности СИ. Способы их уменьшения. Реферат (10-12стр) | 11 | 12 | Нормирование погрешностей средств измерений, их обозначения. Классы точности.презентация в Powerpoint | 10 | 11 |
| 12 | Л-23-24. | Цифро-аналоговые преобразователи. Принципы преобразования цифровых сообщений в аналоговую форму (интерполяция) Реферат (10-12стр) | 12 | 13 | Используемые стандартные информационные, управляющие и вспомогательные сигналы.презентация в Powerpoint | 11 | 12 |
| 13 | Л-25-26. | Измерение интервалов времени. Измерение параметров спектра радиосигналов. Реферат (10-12стр) | 13 | 14 | Унифицированные измерительные преобразователи, преобразователи аналоговой величины в код и наоборот.презентация в Powerpoint | 12 | 13 |
| 14 | Л-27-28. | Управление качеством продукции. Контроль и аттестация качества. Реферат 10 стр | 14 | 15 | Международные, межгосударственные организации по разработке и внедрению систем менеджмента качества.Реферат | 13 | 14 |
Практический блок
После прохождения практики студент должен иметь навыки и умение:
1. Работы на стационарной аппаратуре связи;
2. Обслуживать и управлять системой беспроводной связи;
3. Построения локальной сети;
4. Использования цифровыми системами связи;
5. Обслуживать и управлять системой спутникового телевидения.
6. Настраивать и пользовать интернет системами.
7. Работы на мобильной систем связи;
8. Работы и обслуживания широкополосными системами передачи информации.
9. Работы с телевизионной техникой.
10. Обслуживать и управлять радиоприёмными системами.
11. Использования системы WiFi.
12. Работы с сетями с пакетной коммутацией.
13. А также с Телекоммуникационными сетями с маршрутизацией информации (узловые сети)..
14. Измерения основных параметров усилителей и генераторов.
15. Определять влияние тарифов на экономику большой страны;
9. Список основной литературы:
1. Ефимов И.Е., Козырь И.Я.Основымикроэлектроники. Учебник для вузов. – Изд. Лань, 2008 – 384с.
2. Пасынков В.В., Чиркин Л.К. Полупроводниковые приборы. Учебник для вузов. – 5 –е издание. – СПб: «Лань», 2001. – 480с.
3. Прянишников В.А. Электроника: Полный курс лекций. – СПб: КОРОНА принт, Бином Пресс, 2006. – 416с.
4. Лачин В.И., Савельев Н.С. Электроника: Учебное пособие. – Ростов на Дону: Феникс, 2000. – 448 с.
5. Булычев А.Л., Лямин П.М., Тулинов В.Т. Электронные приборы. Учебник для вузов. – М., Лайт ЛТД, 2000. – 416с .
Список дополнительной литературы:
1 Степаненко И.П. Основы микроэлектроники. Учебное пособие для вузов. – М.: Лаборатория базовых знаний, 2000. – 488 с.
2 Полупроводниковые приборы и основы схемотехники электронных устройств. – М.: Додэка – XXI, 2001. – 368 с.
3 Гук М. Аппаратные средства IBM PC – СПб.: ПИТЕР, 2004. – 816 с.
Дата добавления: 2018-04-04; просмотров: 169; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!