Увеличение и ускоряющее напряжение
Подсчет волокнистых структур проводят при двух различных увеличениях. Меньшим увеличением является увеличение в диапазоне от 300-кратного до 400-кратного. Большим увеличением является 1000-кратное.
Для идентификации методом ЭДРСА в зависимости от ширины структуры может быть необходимо использование* более высокое увеличение (5000-кратное или выше). Ускоряющее напряжение для СЭМ и для подсчета, и для определения с использованием ЭДРСА составляет 15 или 20 кВ.
_______________
* Текст документа соответствует оригиналу. - Примечание изготовителя базы данных.
Настраивают СЭМ таким образом, чтобы волокна с шириной приблизительно 0,2 мкм легко определялись при 1000-кратном увеличении (см. приложение В ).
При подсчете структур асбеста пробу не следует наклонять на угол более 20°.
Методика
Подготовка проб
На первом этапе исследуют часть пробоотборной липкой ленты, загруженной твердыми частицами под стереомикроскопом для определения степени однородности пробы. Выбирают секцию длиной, по крайней мере, 1 см, при необходимости подрезают специальными ножницами и прикрепляют к подготовленному держателю. В зависимости от цели измерения проводят плазменное травление пробы для удаления любых органических материалов. В таких случаях пробу покрывают золотом или углеродом.
Примечание - При покрытии проб углеродом или золотом следует обратить внимание на то, чтобы не нагреть их до температуры плавления самой липкой ленты. После покрытия на поверхности может частично наблюдаться образование кракелюра (волосных трещин). Это может затруднять анализ, но обычно не имеет особого значения, поскольку липкий слой при перегреве заметно не изменяется.
|
|
|
Исследование с использованием СЭМ
8.2.2.1 Исследуемая площадь отбора проб
В первую очередь на наличие волокнистых структур при более низком увеличении (от 300-кратного до 400-кратного) исследуют, по крайней мере, 10 мм 
поверхности пробы (не менее 25 обзорных полей). Впоследствии, 1 мм поверхности пробы анализируют при 1000-кратном увеличении. Анализ может быть завершен, если были обнаружены 60 взвешенных волокнистых структур (см. раздел 9). Волокнистые структуры, обнаруженные при более высоком увеличении и структуры менее 5 мкм в длине, не подсчитывают. Исследуемые области изображения должны быть отобраны в произвольном порядке на всей поверхности контактной пробы (приблизительно 1 см ), избегая при этом наложения областей.
8.2.2.2 Правила подсчета волокнистых структур
- Все волокнистые структуры, содержащие видимые волокна искомого типа (асбест или ИСВ), подсчитывают и разделяют на четыре категории - отдельные волокна, пучок волокон, сгруппированные волокна или матрица волокон (см. раздел 3 ).
|
|
|
- Если волокнистая структура покрывает более одной восьмой области изображения, то это должно быть отмечено в форме для подсчета волокон.
- Все волокнистые структуры, выходящие за область изображения, подсчитывают.
Примечание - Может быть определен размер (длина/ширина) подсчитываемых (асбестовых) структур, но это не является обязательной задачей.
|
Рисунок 2 - Несколько примеров применения правил по подсчету волокон
Дата добавления: 2019-09-13; просмотров: 239; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!