Дифракция на пространственной решетке.
Дифракция света наблюдается на одномерных решетках (система параллельных штрихов), на двумерных решетках (штрихи нанесены во взаимно перпендикулярных направлениях в одной и той же плоскости) и напространственных (трехмерных) решетках — пространственных образованиях, в которых элементы структуры подобны по форме, имеют геометрически правильное и периодически повторяющееся расположение, а также постоянные (периоды) решеток, соизмеримые с длиной волны электромагнитного излучения.
Кристаллы, являясь трехмерными пространственными образованиями с постоянной решетки порядка 10–10м, могут быть использованы для наблюдения
дифракции рентгеновского излучения (λ ≈ 10−12 ÷10−8 м).
Представим кристалл в виде параллельных кристаллографических плоскостей, отстоящих друг от друга на расстоянии d. Пучок параллельных монохроматических лучей (1, 2) падает под углом скольжения ϑ (угол между направлением падающих лучей и кристаллографической плоскостью) и возбуждает атомы кристаллической решетки, которые становятся источниками
когерентных вторичных волн (1’ и 2’), интерферирующих между собой.
Максимумы интенсивности будут наблюдаться в тех направлениях, в которых все отраженные атомными плоскостями волны будут находиться в
одинаковой фазе: 2 d sin ϑ = mλ (m =1, 2,3,K) — формула Вульфа–Брэггов.
Эта формула используется в:
|
|
|
1) рентгеноструктурном анализе — если известна λ рентгеновского излучения, то, наблюдая дифракцию на кристаллической структуре неизвестного строения и измеряя ϑ и m, можно найти d, т.е. определить структуру вещества;
2) рентгеновской спектроскопии — если известна d, то измеряя ϑ и m, можно найти длину волны λ падающего рентгеновского излучения.
Дата добавления: 2016-01-04; просмотров: 29; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!