Поверхностная и объёмная проводимость



Для твёрдых диэлектриков (изоляционные материалы) необходимо различать объёмную и поверхностную проводимость. Для оценки проводимостей пользуются значениями удельного объёмного сопротивления R и удельного поверхностного сопротивления Rs. По этим показателям определяют удельную объёмную проводимость и удельную поверхностную проводимость.

Для плоского образца материала в однородном поле удельное объёмное сопротивление (Ом * м) рассчитывается по формуле:

 

 

 

где R - объемное сопротивление образца, Ом;

 S - площадь электрода, м2;

 h - толщина образца, м.

 

Удельная объемная проводимость g определяется в сименсах на метр.

Удельное поверхностное сопротивление рассчитывается по формуле:

 

 

где RS - поверхностное сопротивление образца, Ом, между параллельно поставленными электродами шириной d, отстоящими друг от друга на расстоянии t.

Удельная поверхностная проводимость gS измеряется в сименсах.

Полная проводимость твердого диэлектрика, соответствующая его сопротивлению изоляции, складывается из объемной и поверхностной проводимостей.

 

При наличии изгибов зон на поверхности возникают избытки подвижных носителей заряда. Избыточные по сравнению с ситуацией прямых зон носители заряда достигают своих больших значений при больших положительных и отрицательных Ys, причем зависимости избыточных концентраций электронов (DN) и дырок (DP) от Ys становятся экспоненциальными.

Если к образцу, в котором имеются эти избытки, приложить вдоль поверхности электрическое поле, то носители начнут двигаться вдоль этой поверхности. Таким образом, наличие избытков должно проявляться в изменении проводимости образца по сравнению с предсказанной, исходя из объемных параметров полупроводника.

Что такое поверхностная проводимость? Поверхностная проводимость-проводимость, обусловленная избытками электронов и дырок. Другими словами, поверхностная проводимость – это разность полной проводимости образца при данном значении поверхностного электростатического потенциала и его значении, равном нулю.

В общем случае для поверхностной проводимости Gs можно записать:

 

,

                                                                                             

где Gs - поверхностная проводимость;

mn s и mp s – поверхностные подвижности электронов и дырок;

DN и DP – избыточные концентрации электронов и дырок.

 

Под поверхностными избытками понимается разность между общим числом носителей в реальном образце полупроводника и их числом в случае присутствия пространственного заряда. Исходя из этого, можно писать:

 

 

Полученные формулы для избытков есть выражение для парциальных зарядов электронов и дырок с точностью до коэффициента q – единичного заряда электрона.

Это значит, что алгебраическая сумма этих двух избытков, умноженная на q, даст формулу для полного заряда в ОПЗ.

Поскольку DN и DP являются функциями уровня легирования l и поверхностного электростатического потенциала Ys, то и Gs является функцией тех же величин. Интегралы, входящие в (65) и (66), табулированы при различных значениях Y и l. На рис. 17 представлена зависимость Gs (Ys) с l в качестве параметра, где l<1, что соответствует полупроводнику n-типа. На рисунке выделены характерные участки этой зависимости.

 


Рис.17. Поверхностная проводимость как функции безразмерного электростатического потенциала при различных уровнях легирования полупроводника.

 

 

1. При Ys = 0 – случай плоских зон, поверхностная проводимость Gs = 0.

2. При Ys > 0 (изгиб зон вниз) концентрация основных носителей заряда в ОПЗ растет, поверхностная проводимость Gs > 0 и монотонно возрастает с ростом Ys (правая часть рис.17). Это соответствует режиму обогащения.

3. При Ys < 0 поверхностная проводимость Gs < 0 и с ростом ½Ys½ вплоть до Ys = 2lnl уменьшается, поскольку концентрация подвижных носителей заряда в ОПЗ меньше, чем в случае Ys = 0. это соответствует режиму обеднения. Эта ситуация будет иметь место до тех пор, пока скорость нарастания неосновных носителей заряда – в данном случае дырок – с изменением не станет больше, нежели скорость убывания концентрации основных носителей заряда – электронов. Это соответствует условию no = ps, т.е. концентрация электронов в объеме полупроводника no равна концентрации дырок на поверхности ps. Значение поверхностной проводимости, соответствующее этому условию, будет минимально и может быть найдено из условия экстремума:

 

Решением этого уравнения является:

 

                                          ,                                                         

где bs - отношение поверхностных подвижностей электронов и дырок,

 

                                          .                                                                     

При достаточно высоком уровне легирования минимум Gs будет наблюдаться при достаточно большом по абсолютному значению поверхностном электростатическом потенциале Ys.

Положение минимума на зависимости Gs (Ys) определяется только объемными свойствами полупроводника: легированием и температурой, и не связано с состоянием поверхности.

Последующее увеличение ½Ys½ приводит к резкому увеличению концентрации дырок, образованию инверсионного слоя и, следовательно, к увеличению поверхностной проводимости Gs.

Подвижности носителей заряда в объеме и в ОПЗ различны. При соударении с поверхностью носитель заряда полностью или частично теряет дрейфовую составляющую скорости – так называемое диффузное рассеяние, в той или иной степени имеющее место в подавляющем числе практических случаев. Оно приводит к изменению подвижностей носителей заряда. Поэтому подвижность в области пространственного заряда у поверхности меньше, чем в объеме. Уменьшение подвижности по сравнению с подвижностью в объеме растет по мере увеличения изгиба зон (роста поверхностного электростатического потенциала).

Поскольку значение поверхностной подвижности меньше, чем аналогичное в объеме полупроводника, поверхностная проводимость для каждого значения поверхностного потенциала уменьшится. Следовательно, уменьшится наклон обеих ветвей, как в области обогащения, так и в области инверсии (рис.18).

без учета поверхностного  рассеяния
Gs
с учетом поверхностного рассеяния
Ys

Рис.18. Схематическое изображение зависимости поверхностной проводимости от поверхностного потенциала в идеальном случае и с учетом поверхностного потенциал.

 


Дата добавления: 2021-03-18; просмотров: 641; Мы поможем в написании вашей работы!

Поделиться с друзьями:






Мы поможем в написании ваших работ!